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机译:二次中性质谱法-一种用于定量分析纳米结构的元素和深度轮廓的强大技术
机译:飞行时间二次离子质谱分析和核反应〜(31)P(α,p_0)〜(34)S对硅中超浅磷注入物的定量深度分析
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机译:通过飞行时间二次离子质谱,基质辅助激光解吸质谱和X射线光电子能谱表征新型聚合物。
机译:使用飞行时间二次离子质谱仪(ToF-SIMS)对蚊帐纤维中的杀虫剂进行成像和定量分析
机译:激光定位二次中性质谱/飞行时间二次离子质谱在纳米毒理学中的应用:纳米银在人巨噬细胞和细胞反应中的可视化
机译:用于化合物半导体材料定量深度分布的溅射中性质谱的研制